硬盤保護(hù)神 S.M.A.R.T技術(shù)深入分析

大壞蛋

引言：讀者和用戶對硬盤數(shù)據(jù)存儲可靠性的關(guān)注逐漸升溫，由此在本刊論壇上引發(fā)了一場關(guān)于S.M.A.R.T技術(shù)的激烈討論。為讓更多讀者深入了解這項(xiàng)已為我們服務(wù)了長達(dá)9年的技術(shù)，我們仔細(xì)篩選出具有針對性的問題，并在希捷硬盤工程師的大力協(xié)助下，將一直工作于系統(tǒng)后臺的S.M.A.R.T技術(shù)提到前臺，旨在深入、詳細(xì)地分析關(guān)于它的方方面面。
　　早在上個世紀(jì)九十年代，人們就意識到數(shù)據(jù)的寶貴性勝于硬盤自身價值，渴望有種技術(shù)能對硬盤故障進(jìn)行預(yù)測并實(shí)現(xiàn)相對安全的數(shù)據(jù)保護(hù)，因此S.M.A.R.T技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生。目前，雖然大多數(shù)硬盤的平均無故障時間(MTBF)已達(dá)30000～50000小時以上，然而對于不少用戶，特別是商業(yè)用戶而言，一次普通的硬盤故障便足以造成災(zāi)難性后果，所以時至今日，S.M.A.R.T技術(shù)仍為我們所用。
　　一、S.M.A.R.T究竟是什么？
　　S.M.A.R.T的全稱為“Self-Monitoring，Analysis and Reporting Technology”，即“自我監(jiān)測、分析及報(bào)告技術(shù)”。支持S.M.A.R.T技術(shù)的硬盤可以通過硬盤上的監(jiān)測指令和主機(jī)上的監(jiān)測軟件對磁頭、盤片、馬達(dá)、電路的運(yùn)行情況、歷史記錄及預(yù)設(shè)的安全值進(jìn)行分析、比較。當(dāng)出現(xiàn)安全值范圍以外的情況時，就會自動向用戶發(fā)出警告。
　　該技術(shù)由Compaq公司率先開發(fā)，IBM、希捷、富士通、昆騰等硬盤廠商參與修正，并融合了Compaq公司的IntelliSafe診斷技術(shù)和IBM的PFA檢測技術(shù)特點(diǎn)。
　　1995年5月，Compaq公司向Small Form Factor(SFF)委員會提交了IntelliSafe的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)報(bào)告(SFF-8035i)；1996年1月進(jìn)行1.0版的修正(SFF-8035R2)；1996年6月進(jìn)行了1.3版的修正(SFF-8055)，并聯(lián)合IBM等公司向SFF正式申請將IntelliSafe技術(shù)加入到ATA-3的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)中，正式更名為S.M.A.R.T(圖1)。

S.M.A.R.T技術(shù)的圖標(biāo)
　　作為行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，S.M.A.R.T規(guī)定了硬盤制造廠商應(yīng)遵循的標(biāo)準(zhǔn)。滿足S.M.A.R.T標(biāo)準(zhǔn)的條件主要包括：在設(shè)備制造期間完成S.M.A.R.T需要的各項(xiàng)參數(shù)、屬性的設(shè)定；在特定系統(tǒng)平臺下，能夠正常使用S.M.A.R.T；通過BIOS檢測，能夠識別設(shè)備是否支持S.M.A.R.T并可顯示相關(guān)信息，而且能辨別有效和失效的S.M.A.R.T信息；允許用戶自由開啟和關(guān)閉S.M.A.R.T功能；在用戶使用過程中，能提供S.M.A.R.T的各項(xiàng)有效信息，確定設(shè)備的工作狀態(tài)，并能發(fā)出相應(yīng)的修正指令或警告。在硬盤以及操作系統(tǒng)都支持S.M.A.R.T.技術(shù)并且該技術(shù)默認(rèn)開啟的的情況下，在不良狀態(tài)出現(xiàn)時S.M.A.R.T.技術(shù)能夠在屏幕上顯示英文警告信息：“WARNING：IMMEDIATLY BACKUP YOUR DATA AND REPLACE YOUR HARD DISK DRIVE，A FAILURE MAY BE IMMINENT．” (警告：立刻備份你的數(shù)據(jù)同時更換硬盤驅(qū)動器，可能有錯誤出現(xiàn)。
　　二、S.M.A.R.T在何處？如何工作？
　　　　S.M.A.R.T信息保留在硬盤的系統(tǒng)保留區(qū)(service area)內(nèi)，這個區(qū)域一般位于硬盤0物理面的最前面幾十個物理磁道，由廠商寫入相關(guān)內(nèi)部管理程序。除了S.M.A.R.T信息表外還包括低級格式化程序、加密解密程序、自監(jiān)控程序、自動修復(fù)程序等。監(jiān)測軟件通過一個名為“SMART RETURN STATUS”的命令(命令代碼為：B0h)對S.M.A.R.T信息進(jìn)行讀取，且不允許最終用戶對信息進(jìn)行修改。
　　三、S.M.A.R.T信息表由什么組成？
　　S.M.A.R.T標(biāo)準(zhǔn)中采用二進(jìn)制代碼作為S.M.A.R.T的基本指令，并規(guī)定寫入標(biāo)準(zhǔn)的寄存器中，形成特定的S.M.A.R.T信息表，以供正常檢測和運(yùn)行。S.M.A.R.T指令分主指令(Command)和次指令(Subcommands)。主指令主要提供設(shè)備是否支持S.M.A.R.T或忽略某一次指令特征的信息。而次指令則提供支持S.M.A.R.T設(shè)備的檢測信息。這些指令主要由設(shè)備廠商寫入，一些專業(yè)硬盤維修軟件可以通過這些代碼進(jìn)行設(shè)備的檢測。
　　四、通過軟件查看硬盤的健康狀況
　　S.M.A.R.T技術(shù)的原理是通過偵測硬盤各屬性，如數(shù)據(jù)吞吐性能、馬達(dá)起動時間、尋道錯誤率等屬性值和標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較分析，推斷硬盤的故障情況并給出提示信息，幫助用戶避免數(shù)據(jù)損失。S.M.A.R.T因此規(guī)定了專門的檢測參數(shù)，由于硬盤結(jié)構(gòu)、性能和定位上的不同，除了ATA-3標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的參數(shù)外，廠商可以根據(jù)自己產(chǎn)品的特性提供不同的S.M.A.R.T檢測參數(shù)。普通用戶則可以通過常用的系統(tǒng)工具(如AIDA32)來查看，并通過這些參數(shù)了解硬盤的“健康”狀況。
　　

圖2：Active S.M.A.R.T檢測到的硬盤S.M.A.R.T信息
　　小知識：S.M.A.R.T技術(shù)是否能偵測磁頭飛行高度？
　　有些廠商的S.M.A.R.T參數(shù)中有“Fly Height(磁頭飛行高度)”一項(xiàng)。不過，準(zhǔn)確地說，硬盤無法偵測到磁頭的飛行高度，因?yàn)橛脖P中沒有任何裝置可以測試到磁頭的飛行高度。雖然硬盤生產(chǎn)廠商可以根據(jù)磁頭讀取到的磁信號強(qiáng)度來推測磁頭飛行高度，但這種推測出的磁頭飛行高度很多時候與實(shí)際情況相比有較大偏差，所以只能作為參考。
　　接下來，我們以希捷硬盤的S.M.A.R.T檢測參數(shù)為例，具體分析主要參數(shù)的含義。如圖2所示，S.M.A.R.T檢測參數(shù)分為7列，分別是ID檢測代碼、屬性描述、閾值、屬性值、最大錯誤值、實(shí)際值和屬性狀態(tài)。
　　
　　

圖3：希捷硬盤的S.M.A.R.T檢測參數(shù)示意圖
　　1.ID檢測代碼
　　ID檢測代碼不是唯一的，廠商可以根據(jù)需要，使用不同的ID代碼或根據(jù)檢測參數(shù)的多少增減ID代碼的數(shù)量。例如，西數(shù)公司的產(chǎn)品ID檢測代碼為“04”，檢測的參數(shù)是Start/Stop Count(加電次數(shù))，而富士通公司同樣代碼的檢測參數(shù)卻為“Number of times the spindle motor is activated”(電機(jī)激活時間)。
　　2.屬性描述(Attribute Description)
　　屬性描述(Attribute Description)即檢測項(xiàng)目名稱�？捎蓮S商自定義增減，由于ATA標(biāo)準(zhǔn)不斷更新，有時候同一品牌的不同型號產(chǎn)品也會有所不同。但必須確保S.M.A.R.T規(guī)定的幾個主要檢測項(xiàng)目(雖然不同廠商對檢測項(xiàng)目都有特定的命名規(guī)則，但這些監(jiān)測項(xiàng)目的實(shí)質(zhì)其實(shí)是一樣的)。
　　Read Error Rate 錯誤讀取率
　　Start/Stop Count 啟動/停止次數(shù)(又稱加電次數(shù))
　　Relocated Sector Count 重新分配扇區(qū)數(shù)
　　Spin up Retry Count 旋轉(zhuǎn)重試次數(shù)(即硬盤啟動重試次數(shù))
　　Drive Calibration Retry Count 磁盤校準(zhǔn)重試次數(shù)
　　ULTRA DMA CRC Error Rate (ULTRA DMA奇偶校驗(yàn)錯誤率)
　　Multi-zone Error Rate 多區(qū)域錯誤率
　　Vendor-specific 廠商特性
　　需要注意的是，不同廠商、不同類型產(chǎn)品的屬性描述不盡相同。對用戶而言，無須深入了解它們的具體含義，只需了解屬性監(jiān)測值的含義即可。
　　3.閾值(Threshold)
　　又稱門限值。是由硬盤廠商指定的可靠的屬性值，通過特定公式計(jì)算而得。如果有一個屬性值低于相應(yīng)的閾值，就意味著硬盤將變得不可靠，保存在硬盤里的數(shù)據(jù)也很容易丟失�？煽繉傩灾档慕M成和大小對不同硬盤來說是有差異的。這里需要注意的是，ATA標(biāo)準(zhǔn)中只規(guī)定了一些S.M.A.R.T參數(shù)，它沒有規(guī)定具體的數(shù)值，“Threshold”的數(shù)值是廠商根據(jù)自己產(chǎn)品特性而確定的。因此，用廠商自己提供的檢測軟件往往會跟Windows下的檢測軟件(例如AIDA32)的檢測結(jié)果有較大出入。這里，我們推薦以廠商軟件的檢測結(jié)果為標(biāo)準(zhǔn)，因?yàn)閃indows環(huán)境下，系統(tǒng)要求硬盤的啟動程序比DOS下多得多，這可能導(dǎo)致硬盤S.M.A.R.T值比DOS環(huán)境下檢測的波動更大。以參數(shù)Raw ErrorRate(錯誤讀取率)為例：該參數(shù)的計(jì)算公式為10×log10(主機(jī)和硬盤之間所傳輸數(shù)據(jù)的扇區(qū)數(shù))×512×8/重讀的扇區(qū)數(shù)。其中 “512×8”是把扇區(qū)數(shù)轉(zhuǎn)化為所傳輸?shù)臄?shù)據(jù)位(bits)，這個值只在所傳輸?shù)臄?shù)據(jù)位處于10^10～10^12范圍時才作計(jì)算，而當(dāng)Windows系統(tǒng)啟動后，主機(jī)和硬盤之間所傳輸?shù)臄?shù)據(jù)扇區(qū)大于或等于10^12時，此值將重新復(fù)位。這就是為什么有些值在不同的操作環(huán)境、不同檢測程序下時波動較大的原因。
　　4.屬性值(Attribute value)
　　屬性值是指硬盤出廠時預(yù)設(shè)的最大正常值，一般范圍為1～253。通常，最大的屬性值等于100(適用于IBM、昆騰、富士通)或253(適用于三星)。當(dāng)然，也有例外的時候，比如由西部數(shù)據(jù)公司生產(chǎn)的部分型號硬盤，就用了兩個不同的屬性值，最初生產(chǎn)時屬性值設(shè)為200，但后來生產(chǎn)的硬盤屬性值又改為100。
　　5.最大出錯值(Worst)
　　最大出錯值是硬盤運(yùn)行中曾出現(xiàn)過的最大的非正常值。它是對硬盤累計(jì)運(yùn)行的計(jì)算值，根據(jù)運(yùn)行周期，該數(shù)值會不斷地刷新，并且會非常接近閾值。S.M.A.R.T分析和判定硬盤的狀態(tài)是否正常，就是根據(jù)這個數(shù)值和閾值的比較結(jié)果而定。新硬盤開始時有最大的屬性值，但隨著日常使用或出現(xiàn)錯誤，該值會不斷減小。因此，較大的屬性值意味著硬盤質(zhì)量較好而且可靠性較高，而較小的屬性值則意味著故障發(fā)生的可能性增大。
　　6.實(shí)際值(Date)
　　是硬盤各檢測項(xiàng)目運(yùn)行中的實(shí)際數(shù)值，很多項(xiàng)目是累計(jì)值。例如：圖3中的Start/Stop Count(啟停次數(shù))，累計(jì)的實(shí)際值是436，即該硬盤從開始到現(xiàn)在累計(jì)加電啟停436次。
　　7.屬性狀態(tài)(Status)
　　這是S.M.A.R.T針對前面的各項(xiàng)屬性值進(jìn)行比較分析后，提供的硬盤各屬性目前的狀態(tài)，也是我們直觀判斷硬盤“健康”狀態(tài)的重要信息。根據(jù)S.M.A.R.T的規(guī)定，這種狀態(tài)一般有正常、警告和報(bào)告故障或錯誤等3種狀態(tài)。S.M.A.R.T判定出這3個狀態(tài)與S.M.A.R.T的 Pre-failure/advisory BIT(預(yù)知錯誤/發(fā)現(xiàn)位)參數(shù)的賦值密切相關(guān)。
　　當(dāng)Pre-failure/advisory BIT=0，并且可靠屬性值遠(yuǎn)大于閾值的情況下，為正常提示“OK”標(biāo)志。當(dāng)Pre-failure/advisory BITt=0，并且可靠屬性值大于閾值但接近閾值臨界值時，為警告提示“！”標(biāo)志；當(dāng)Pre-failure/advisory BITt=1，并且可靠屬性值小于閾值時，為報(bào)告故障或錯誤提示“�。�！”標(biāo)志。
　　在圖2中，我們發(fā)現(xiàn)出現(xiàn)“OK”標(biāo)志的正常狀態(tài)下有“值正�！�(Value is Normal)和“總是略過”(Always Passing)兩個狀態(tài)說明。它們的區(qū)別是：“值正�！北砻鞔隧�(xiàng)S.M.A.R.T值是正常的，硬盤沒有故障；“永遠(yuǎn)略過”則表明此項(xiàng)只是某參數(shù)的記錄，沒有合格與不合格的標(biāo)準(zhǔn)，如“Power on time count”，這個參數(shù)只是記錄了硬盤已經(jīng)加電工作的時間，這個參數(shù)應(yīng)當(dāng)永遠(yuǎn)合格，它不用來衡量硬盤的性能，因此顯示為“OK:Value is Normal”。
　　下面我們以ID為“04”的Start/Stop Count(加電次數(shù))檢測參數(shù)為例，完整地來理解這7列參數(shù)的意義：從圖2中我們看到此參數(shù)規(guī)定的屬性正常值(Attribute value)為“100”，這個正常值是通過計(jì)算公式：“100-硬盤正常使用壽命期間的加電次數(shù)/1024”而給出的。而最大出錯值是硬盤運(yùn)行的累計(jì)計(jì)算值。例如如果是新硬盤，則加電次數(shù)為0，因此為100-0/1024＝100，最大出錯值＝屬性正常值。隨著加電次數(shù)的增加，該最大出錯值不斷變化。廠商規(guī)定的閾值為20，即當(dāng)硬盤的開關(guān)電次數(shù)達(dá)到81920次時(100-81920/1024=20)，最大出錯值＝閾值，系統(tǒng)就會提示用戶備份數(shù)據(jù)。因此，加電次數(shù)在81920次范圍之內(nèi)，并且最大出錯值始終大于閾值20的狀態(tài)下，均為正常。圖中的加電次數(shù)(Date實(shí)際值)為107次，因此最大出錯值近似為100，狀態(tài)顯示為“OK:Value is Normal(值正常)”。需要特別注意的是：每一個參數(shù)所給出的值都是經(jīng)過一些特定的計(jì)算公式而給出的。作為用戶，只要觀察“Worst”和“Threshold”值的關(guān)系，并注意狀態(tài)提示屬性狀態(tài)信息即可大致了解硬盤的健康狀況。
　　五、SCSI系統(tǒng)中的S.M.R.A.T技術(shù)
　　由于目前硬盤領(lǐng)域存在ATA和SCSI兩種標(biāo)準(zhǔn)，所以不可否認(rèn)，S.M.A.R.T技術(shù)是同時支持這兩個系列的產(chǎn)品的，只是在一些參數(shù)設(shè)定上存在一些差異，在關(guān)鍵參數(shù)上SCSI比ATA硬盤更為復(fù)雜。但在實(shí)際運(yùn)作中，由于用戶和使用環(huán)境不同，S.M.A.R.T對ATA/IDE系統(tǒng)的干預(yù)比SCSI系統(tǒng)要多一些，而對SCSI故障的判定更為專業(yè)和準(zhǔn)確些。SCSI硬盤的S.M.A.R.T技術(shù)與ATA硬盤的S.M.A.R.T技術(shù)相比更為復(fù)雜，以下僅列舉SCSI硬盤所特有參數(shù)中的一部分。
　　Primary Temp：硬盤盤體的工作溫度
　　Secondary Temp：PCB板周圍的工作溫度
　　Min and Max Temp：在一段時間內(nèi)硬盤盤體的最高和最低工作溫度
　　Velocity Observer Count：在一段時間內(nèi)伺服尋道時偏離指定磁道的次數(shù)
　　12V：12V供電電壓值
　　5V：5V供電電壓值
　　MR Res：MR磁頭牡繾柚?
　　Sectors Read：在一段時間內(nèi)從硬盤中讀取的扇區(qū)數(shù)
　　Sectors Written：在一段時間內(nèi)數(shù)據(jù)寫入硬盤中的扇區(qū)數(shù)
　　在ATA/IDE環(huán)境下，由主機(jī)上的軟件對S.M.A.R.T“報(bào)告狀態(tài)”命令生成的、來自硬盤的報(bào)警信號進(jìn)行解讀。主機(jī)對硬盤進(jìn)行查詢，以檢查這一命令的狀態(tài)，如果顯示馬上要發(fā)生故障，就將告警信號送至最終用戶或系統(tǒng)管理員。系統(tǒng)管理員就安排關(guān)機(jī)時間，以備份數(shù)據(jù)和更換硬盤。主系統(tǒng)除對來自硬盤的“報(bào)告狀態(tài)”命令進(jìn)行評估外，還可對屬性和告警報(bào)告進(jìn)行評估。在SCSI環(huán)境下，S.M.A.R.T則只報(bào)告“狀況完好”或“出現(xiàn)故障”。由硬盤進(jìn)行故障判斷，再由主機(jī)通知用戶采取措施。在SCSI標(biāo)準(zhǔn)中有一個檢測位，當(dāng)硬盤確定可靠性出現(xiàn)問題時，檢測位就打上標(biāo)記并通知最終用戶或系統(tǒng)管理員，采取相應(yīng)措施。
　　六、S.M.A.R.T的預(yù)測效果究竟如何？
　　通常我們面對的硬盤故障可以分為兩大類：不可預(yù)測和可預(yù)測。
　　不可預(yù)測故障，通常指不可預(yù)料的電子和機(jī)械故障，這類故障發(fā)生在瞬間，如硬盤加電狀態(tài)意外碰撞導(dǎo)致硬盤磁頭撞擊盤片，或瞬間電流過大引起的芯片或電路故障。通常是在S.M.A.R.T反映出性能下降之前，硬盤就已經(jīng)不能工作。而這些只可通過質(zhì)量、設(shè)計(jì)、工藝、制造等方面的改進(jìn)以及使用過程中規(guī)范操作來降低不可預(yù)測故障的發(fā)生率(例如硬盤防震技術(shù)的開發(fā)和進(jìn)展，有效降低了硬盤震動物理故障的概率)。
　　可預(yù)測故障具有在硬盤完全不能工作前，其相應(yīng)的參數(shù)會隨時間發(fā)生變化的特點(diǎn)。根據(jù)這一特點(diǎn)，可以通過S.M.A.R.T此類實(shí)時信息檢測技術(shù)監(jiān)測其屬性來進(jìn)行故障預(yù)測、分析和提供建議，從而加以防范。此類故障中包括軟件故障和硬件故障。例如許多機(jī)械故障都被看作是典型的可預(yù)測故障，S.M.A.R.T技術(shù)對于此類故障就有了用武之地，在發(fā)生故障之前，可以發(fā)出提醒用戶備份數(shù)據(jù)的通知，保護(hù)用戶的數(shù)據(jù)。
　　

圖4：在BIOS中可自行設(shè)定S.M.A.R.T功能的開/閉
　　據(jù)研究數(shù)據(jù)表明，利用S.M.A.R.T技術(shù)可預(yù)測的硬盤故障中，60％為機(jī)械性質(zhì)的，40％左右則是對軟性故障的有效預(yù)測。隨著S.M.A.R.T技術(shù)及相關(guān)技術(shù)的漸漸成熟，可預(yù)測出的故障種類將越來越多，對故障的防范措施也會變得越來越有效。當(dāng)然，對不想開啟S.M.A.R.T技術(shù)的讀者而言，也可以在BIOS設(shè)置的“Advanced BIOS Set Up”選項(xiàng)中將其關(guān)閉(圖4)。
　　七、對一些特殊問題的解答
　　1.組建RAID之后，S.M.A.R.T是否仍然生效？
　　用戶組建RAID之后，S.M.A.R.T功能仍然有效，但是這需要RAID卡控制芯片支持S.M.A.R.T功能。實(shí)際上，RAID卡的S.M.A.R.T報(bào)警功能與硬盤在常規(guī)狀態(tài)下的報(bào)錯信息并無太大差別。報(bào)警時，相應(yīng)模塊所對應(yīng)的硬盤指示燈(通常為紅色)會長亮以起到警示作用。
　　2.為什么監(jiān)測不到USB接口外置硬盤的S.M.A.R.T狀態(tài)？
　　對于一個USB接口外置硬盤而言，系統(tǒng)將它判定為一個USB設(shè)備，監(jiān)測不到S.M.A.R.T信息是因?yàn)閁SB標(biāo)準(zhǔn)中沒有此項(xiàng)規(guī)定。此時雖然硬盤自身仍然在記錄S.M.A.R.T狀態(tài)，但由于它是USB外設(shè)，系統(tǒng)就不會監(jiān)測它的S.M.A.R.T狀態(tài)。
　　3.S.M.A.R.T功能對系統(tǒng)性能是否有影響？
　　硬盤記錄S.M.A.R.T信息有兩種方式，第一種是“在線(On-line)”收集，所謂在線收集就是硬盤在工作時，根據(jù)硬盤的實(shí)際工作狀態(tài)收集到的信息，硬盤實(shí)時或在指定時間段內(nèi)更新自身的S.M.A.R.T數(shù)據(jù)。舉例來說，如果一個ATA硬盤在寫入數(shù)據(jù)到一個扇區(qū)時，遇到一個不可修正的錯誤，硬盤會及時把這個信息更新到SMART數(shù)據(jù)中；對于SCSI硬盤，如果它設(shè)定的S.M.A.R.T更新周期是4分鐘，則它會把在4分鐘內(nèi)收集到的相關(guān)S.M.A.R.T信息更新到S.M.A.R.T數(shù)據(jù)區(qū)，然后再開始下一個周期的跟蹤。在線收集狀態(tài)對系統(tǒng)性能沒有影響。
　　第二種是“離線(off-line)”收集，離線收集是硬盤收到主機(jī)發(fā)來的一些特定指令時而進(jìn)行自檢測試，此時硬盤會處于“idel”狀態(tài)或錯誤修正狀態(tài)，在這類情況下，硬盤自身將作大量動作以測試健康狀態(tài)，導(dǎo)致硬盤對主機(jī)發(fā)出的正常要求產(chǎn)生延遲。所以離線收集狀態(tài)會造成系統(tǒng)性能的下降。
　　4.S.M.A.R.T技術(shù)對相關(guān)信息的記錄是否有周期性？
　　對于SCSI硬盤而言，記錄S.M.A.R.T信息有周期性，一般情況下周期處于4分鐘～120分鐘之間。這個值在硬盤出廠時就已設(shè)定，并且只能通過專業(yè)軟件進(jìn)行修改；而對于ATA硬盤，S.M.A.R.T信息的記錄則沒有周期性。
　　八、寫在最后
　　經(jīng)過近9年的發(fā)展，S.M.A.R.T技術(shù)已成為ATA/SCSI規(guī)范中不可或缺的部分。目前，硬盤廠商關(guān)于數(shù)據(jù)保護(hù)技術(shù)的開發(fā)和研究，也基本是建立在S.M.A.R.T技術(shù)基礎(chǔ)上的。通過本文的分析可以看出，S.M.A.R.T具有被動性的檢測、預(yù)警功能，被新興的數(shù)據(jù)保護(hù)技術(shù)衍生為可主動修復(fù)的功能。隨著硬盤技術(shù)的更新，我們有理由相信，S.M.A.R.T技術(shù)將給用戶的數(shù)據(jù)提供更多保障。
出處： 微型計(jì)算機(jī)/陳清之 日期： 2004-12-3

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